Elavult böngészőt használ. Előfordulhat, hogy nem jeleníti meg megfelelően ezt vagy más webhelyeket. Frissítsen, vagy használjon alternatívát böngésző.
Free Download Hiroyuki Fujiwara, "Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications"
English | 2007 | pages: 388 | ISBN: 0470016086 | PDF | 7,5 mb
Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semiconductor structures. This book deals with...
Free Download Spectroscopic Methods of Analysis: Methods and Protocols By Yi-Chun Chen, Bryan Q. Spring, Robert M. Clegg (auth.), Wlodek M. Bujalowski (eds.)
2012 | 397 Pages | ISBN: 1617798053 | PDF | 8 MB
Quantitative elucidation of structural, energetic and dynamic aspects of macromolecular...
Spectroscopic Techniques for Semiconductor Industry (324 Pages) | 325 | Vladimir Protopopov
|
Contents of Download:
Protopopov V. Spectroscopic Techniques for Semiconductor Industry 2023.pdf (244.52 MB)
NitroFlare Link(s) (This link is only available for premium members)...